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台式PIDPotential Induced Degradation

价格 ￥1.00
更新时间
2023-06-02 23:19:01
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1台起批
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详细介绍

台式PID（Potential Induced Degradation）潜在诱导退化测试仪，用于c-Si太阳能电池和光伏迷你组件的售前和安装后质量检测。


标准：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016


可测量参数:分流电阻、功率损耗、电导率、泄漏电流、湿度和温度



台式PID（Potential Induced Degradation）



    易PID和抗PID的太阳能电池重现性